造價(jià)工程師復(fù)習(xí)資料：無(wú)損檢測(cè)（探傷）

　　無(wú)損檢測(cè)（探傷）

　　1.射線檢測(cè)（RT）

　　X射線探傷的優(yōu)點(diǎn)是顯示缺陷的靈敏度高，特別是當(dāng)焊縫厚度小于30mm時(shí)，較γ射線靈敏度高；其次是照射時(shí)間短、速度快。缺點(diǎn)是設(shè)備復(fù)雜、笨重，成本高，操作麻煩，穿透力較γ射線小。

　　2.超聲波探傷（UT）

　　超聲檢查一般是指使超聲波與試件相互作用，就反射、透射和散射的波進(jìn)行研究，對(duì)試件進(jìn)行宏觀缺陷檢測(cè)、幾何特性測(cè)量、組織結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能變化的檢測(cè)和表征，并進(jìn)而對(duì)其特定應(yīng)用性進(jìn)行評(píng)價(jià)的技術(shù)。

　　超聲法的優(yōu)點(diǎn)是可用于金屬、非金屬和復(fù)合材料制件的無(wú)損評(píng)價(jià)；對(duì)于平面形缺陷，UT比RT有較高的靈敏度，而且UT探傷周期短，對(duì)探傷人員無(wú)危害，設(shè)備輕便，費(fèi)用較低，可做現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)；對(duì)確定內(nèi)部缺陷的大小、置位、取向、埋深和性質(zhì)等參量較之其他無(wú)損方法有綜合優(yōu)勢(shì)；僅需從一側(cè)接近試件；所用參數(shù)設(shè)置及有關(guān)波形均可存儲(chǔ)，供以后調(diào)用。主要局限性是不能直接記錄缺陷的形狀，對(duì)材料及制件缺陷作精確的定性、定量表征仍需作深入研究；對(duì)試件形狀的復(fù)雜性有一定限制。

　　3.渦流檢測(cè)

　　渦流檢測(cè)只能檢查金屬材料和構(gòu)件的表面和近表面缺陷，可以一次測(cè)量多種參數(shù)。

　　渦流檢測(cè)的主要優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)速度快，探頭與試件可不直接接觸，無(wú)需耦合劑。主要缺點(diǎn)是只限用于導(dǎo)體，對(duì)形狀復(fù)雜試件難做檢查，只能檢查薄試件或厚試件的表面、近表面缺陷。

　　4.磁粉檢測(cè)（MT）

　　磁粉檢測(cè)可以檢測(cè)材料和構(gòu)件表面和近表面缺陷，對(duì)裂紋、發(fā)紋、折疊、夾層和未焊透等缺陷極為靈敏。可檢出的缺陷最小寬度約為1μm；幾乎不受試件大小和形狀的限制；局限性是只能用于鐵磁性材料和只能發(fā)現(xiàn)表面和近表面缺陷。

　　5.液體滲透檢測(cè)（PT）

　　液體滲透檢測(cè)是檢驗(yàn)非疏孔性金屬和非金屬試件表面上開(kāi)口缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。

　　液體滲透檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)是不受被檢試件幾何形狀、尺寸大小、化學(xué)成分和內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)的限制，也不受缺陷方位的限制，一次操作可同時(shí)檢驗(yàn)開(kāi)口于表面中所有缺陷；不需要特別昂貴和復(fù)雜的電子設(shè)備和器械；檢驗(yàn)的速度快，操作比較簡(jiǎn)便。

　　液體滲透最主要的限制是只能檢出試件開(kāi)口于表面的缺陷，不能顯示缺陷的深度及缺陷內(nèi)部的形狀和大小。

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